چهارشنبه, 05ام ارديبهشت

شما اینجا هستید: رویه نخست یادگارهای فرهنگی و طبیعی یادمان استفاده از روش های نوین XRF در مطالعات نقوش سنگی تخت جمشید

یادمان

استفاده از روش های نوین XRF در مطالعات نقوش سنگی تخت جمشید

نقوش سنگی تخت جمشید به‌عنوان اولین آثر تاریخی ایران، با روش طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس (XRF)آنالیز شد.

خبرگزاری میراث‌فرهنگی ـ گروه میراث‌فرهنگی ـ مدیر اجرایی مجموعه تخت جمشید، از انجام آزمایشات جدید به روش xrf  روی نقوش سنگی تخت جمشید خبر داد و گفت مجموعه تخت جمشید جزء اولین آثار تاریخی در ایران است که از چنین روشی در مطالعات تحلیلی نقوش سنگی بهره مند شده است.
 
او در این خصوص گفت: این فصل از مطالعات سنگ که با یک دستگاه پرتابل و قابل حمل انجام شده، به جای انتقال نمونه های سنگ به مکان آزمایشگاهی برای تحلیل عنصری کانی های سنگ و شناخت طیف و کمیت عناصر، نمونه ها در مکان اصلی خود و در مجموعه تخت جمشید بدون کوچکترین آسیبی مورد تحلیل قرار گرفت .
در تخت گاه تخت جمشید، کاوشهای باستان شناسی انجام شده است ،اما آنچه ضرورت دارد مطالعه، بازنگری و مانیتورینگ مرمت ها و همچین بررسی وضعیت آسب پذیری نقوش سنگی تخت جمشید در شرایط امروزی است. به همین منظور برنامه مطالعات سنگ با عنوان " از تخت گاه تا تخت جمشید " متشکل از هیآت ایرانی و ایتالیایی و با رویکرد حفاظتی و مرمتی، از سال 87 تا کنون و بصورت دوره ای در حال اجرا ست.
 
همچنین بر اساس گزارش روابط عمومی مجموعه جهانی تخت جمشید ، در بخش دیگری از این گزارش سرپرست تیم ایرانی مطالعات سنگ در تخت جمشید نیز در تبیین آخرین نتایج مطالعات سنگ مجموعه تخت جمشید گفت: تا کنون بیش از 200 نمونه آزمایش در تخت جمشید انجام شده، همچنین مواد و مصالح خاص تخت جمشید تشخیص و ساخته شده است اما به کار گیری این مواد و طیف مرمت و حفاظت نقوش در مقیاس گسترده تر ، به نتایج آزمایشات تکمیلی و  مواد مرمتی به کار گرفته شده بر می گردد.
 
علیرضا عسگری با اشاره به اینکه اهمیت این دور از مطالعات به دلیل توسعه مرمت و حفاظت از نقوش سنگی تخت جمشید است، افزود: کار آزمایشی تخت جمشید توسط مرمتگران ایرانی و ایتالیایی انجام شده است و وضعیت آسیب پذیری آن در شرایط امروزی مورد تجزیه و تحلیل قرار گرفته است و انجام آزمایشات تحلیل عنصری کانی های سنگ در این دوره به روش xrf   به‌عنوان مکمل مطالعات کانی‌شناسی کاربرد زیادی دربررسی‌های مطالعاتی مورد نظر و حفاظت از آثار دارد ، متعاقباً این فصل از کار ، کنترل و بازنگری مرمت نقوش را به مرحله تحقیقات نهایی وارد می کند.
 
عسکری با اشاره به اینکه خود سرپرستی برنامه مطالعات نقوش سنگی تخت جمشید را بر عهده داشته است یادآور شد: پی یر فرانچسکو کالیری از دانشگاه بولونیا ایتالیا، به عنوان سرپرست تیم ایتالیایی و نیز متخصصانی در حوزه مرمت، شیمی و فیزیک در این مطالعات پژوهشی- میدانی حضور داشتند.
 
وی در پایان گفت: این فصل از کاوش در چارچوب برنامه های مطالعات و همکاری های مشترک هیأت های ایرانی و ایتالیایی، پایگاه میراث جهانی پارسه- پاسارگاد و واحدحفاظت و مرمت مجموعه تخت جمشید، در بخش پژوهش های میدانی انجام شد.
 
 طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس (XRF) یک روش آنالیز دستگاهی است که در آن از روش طیف نشری اشعه ایکس. برای تجزیه لایه‌های سطحی استفاده می‌شود. این دستگاه توانایی انجام آنالیز عنصری به‌صورت کیفی و نیمهکمی نمونه‌های معدنی مانند: نمونه‌های زمین‌شناسی، کانی‌ها، سنگ‌ها، شیشه، سیمان،سرامیک‌ها، آلیاژهای فلزی و غیره را دارد. برانگیختگی نمونه در اثر تابش پرتو ایکسموجب انتقال الکترونی در لایه‌های مختلف اتم می‌شود که هر انتقال الکترونی همراه بانشر یک خط طیفی پرتو x است. طول موج خطوط طیفی نشر شده مبنای تجزیه کیفی عناصر وشدت پرتوها متناسب با فراوانی یا کمیت عناصر موجود در نمونه است.

نوشتن دیدگاه


تصویر امنیتی
تصویر امنیتی جدید

در همین زمینه